LOOPBACK测试标准

2026-07-09 本文链接为:http://www.usbzh.com/article/detail-1758.html ,欢迎转载，转载请附上本文链接。

Electrical Compliance Test Specification SuperSpeed Universal Serial Bus 超高速通用串行总线电气合规性测试规范 https://www.usb.org/sites/default/files/SuperSpeedPHYComplianceTest_Spec1_0a.pdf
USB 3.0 Electrical Test Fixture Topologies USB 3.0电气测试夹具拓扑结构 https://www.usb.org/sites/default/files/documents/superspeedtesttopologies.pdf
USB 3.0 Super Speed Electrical Compliance Methodology（电气合规性USB 3.0超高速电气合规性方法） https://www.usb.org/sites/default/files/USB_3_0_e-Compliance_methodology_0p5_whitepaper.pdf

接收端抖动容限测试（RX LOOPBACK测试）是USB 3.0物理层一致性测试中最关键的项目之一。其主要标准依据、具体指标和章节对应关系，可归纳如下：

直接规范文件：《Electrical Compliance Test Specification for SuperSpeed USB》 (Revision 1.0a)。这是执行测试的操作指导手册。
根本依据：所有测试的最终判定标准（如抖动极限值）都源自 《USB 3.0 Specification》，特别是其 Table 6-19。规范是”法”，合规测试规范是”执法细则”。
核心章节：在合规测试规范中，该测试的描述位于 TD.1.5 Receiver Jitter Tolerance Test 章节。

测试的核心是向处于环回模式（Loopback）的DUT发送带有特定损伤的信号，并统计其误码率（BER）。

测试码型与时长
- 测试码型：BDAT 码型。
- 测试时长：需要传输总计 3x10¹⁰ bits，在此过程中统计错误。
- 通过标准：在整个测试期间，DUT环回产生的误码不得超过1个。若超出，则测试失败。

为缩短测试时间，接收机测试的误码率（BER）指标设为10−10.

压力信号（Stressed Signal）三大”配方”
测试信号是在一个非常”恶劣”的眼图（受压眼图）基础上，再叠加上不同频率的正弦抖动（SJ）。校准这个”受压眼图”是其先决条件，包含三个要素：
- 随机抖动 (RJ)：校准值为 2.42 ps RMS (±10%)。
- 正弦抖动 (SJ)：在不同频率点注入特定峰峰值幅度的抖动。这是抖动容限测试的核心，具体标准如下：
  - 500 kHz：400 ps (2.265 UI)
  - 1 MHz：200 ps (1.132 UI)
  - 2 MHz：100 ps (0.566 UI)
  - 4.9 MHz (拐点频率)：40 ps (0.232 UI)
  - 10 MHz：40 ps
  - 20 MHz：40 ps
  - 33 MHz：40 ps
  - 50 MHz：40 ps
- 眼高 (Eye Height)：校准后的信号眼图高度，对于主机 (Host) 为 180 mV，对于设备 (Device) 为 145 mV。

测试原理：测试时通过专用握手序列（包括LFPS和TS2有序集）将DUT强制置入环回模式。信号发生器发送的码型经DUT接收后”环回”输出，由误码检测器比对收发数据来统计错误。
时钟补偿：由于环回模式收发时钟可能异步，测试系统必须能处理数据流中用于时钟补偿的SKP有序集，正确识别有效数据，避免因符号插入/删除导致误判。

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